KF21 半導體裝盒晶圓出貨檢驗

KF21 半導體裝盒晶圓出貨檢驗

驚艷的速度,5 秒即可完成裝盒晶圓的出貨檢驗


方案介紹

KF21 AI+AOI 視覺解決方案

AI 替代人檢,速度是以往的 60 倍

幾乎不需人工介入檢查,減少疏漏與誤判

KF21 解決方案能有效節省人力需求,並縮短檢驗時間,將人力調配至更重要的生產單位

AI + AOI 完成高難度檢驗任務

突破傳統 AOI 技術難點與人工目檢問題

精準辨識透明、易反光材質晶圓盒內,大量排列組合的晶圓狀態,以及複雜造型的扣具卡榫

多角度整合取像,辨識速度不減慢

連接複數光學相機,同時啟動拍照

同步拍攝多視角目標影像,進行裝盒晶圓出貨檢驗,一次性完成多項檢驗任務

檢驗數據與生產管理

保存重要出貨影像檔案與辨識結果數據

影像檔案與檢驗數據可與生產管理系統整合,並依據複查、分析等需求,快速調閱辨識影像與結果,追蹤查詢生產數據


檢驗情境

裝盒晶圓出貨檢驗,可依需求客製化訓練 AI 模型
晶舟盒密合度檢查
晶圓數量檢查
晶圓擺放位置檢查

支援多種封測廠常用晶舟盒類型,特殊光源設計,半透明材質也能檢驗
KTB-3002B
MW300GT.CS2
KTL-3004A-2
客製化新 AI 辨識模型,最快只需 3

系統與設備規格

KF21 半導體裝盒晶圓出貨檢驗方案:

  • 光學取像設備
  • AI + AOI 檢測系統主機
  • AI + AOI 軟體
  • 其他服務

下載產品規格文件、支援、報價與業務合作需求,歡迎與我們聯繫,我們將會盡快與您回覆,謝謝

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