KF21 半導體裝盒晶圓出貨檢驗
驚艷的速度，5 秒即可完成裝盒晶圓的出貨檢驗
方案介紹
KF21 AI+AOI 視覺解決方案
AI 替代人檢，速度是以往的 60 倍
幾乎不需人工介入檢查，減少疏漏與誤判
KF21 解決方案能有效節省人力需求，並縮短檢驗時間，將人力調配至更重要的生產單位
AI + AOI 完成高難度檢驗任務
突破傳統 AOI 技術難點與人工目檢問題
精準辨識透明、易反光材質晶圓盒內，大量排列組合的晶圓狀態，以及複雜造型的扣具卡榫
多角度整合取像，辨識速度不減慢
連接複數光學相機，同時啟動拍照
同步拍攝多視角目標影像，進行裝盒晶圓出貨檢驗，一次性完成多項檢驗任務
檢驗數據與生產管理
保存重要出貨影像檔案與辨識結果數據
影像檔案與檢驗數據可與生產管理系統整合，並依據複查、分析等需求，快速調閱辨識影像與結果，追蹤查詢生產數據
檢驗情境
裝盒晶圓出貨檢驗，可依需求客製化訓練 AI 模型
支援多種封測廠常用晶舟盒類型，特殊光源設計，半透明材質也能檢驗
客製化新 AI 辨識模型，最快只需 3 週
系統與設備規格
KF21 半導體裝盒晶圓出貨檢驗方案：
- 光學取像設備
- AI + AOI 檢測系統主機
- AI + AOI 軟體
- 其他服務
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NxAI：賦予視覺與感知能力 