KP21 印刷文字瑕疵檢測

KP21 印刷文字瑕疵檢測

快速、精準、穩定,1 秒內檢測 1500 個印刷文字


方案介紹

KP21 AI+AOI 視覺解決方案

大量印刷文字快速檢測

從大量、密集且微小的文字中找出瑕疵

不同基底材質、油墨、印刷方式與等多樣化影像中,快速定位並框選大量文字,同時檢出缺陷,剔除不良印刷

瑕疵辨識演算法

捕捉人眼難以識別的微小差異

除文字瑕疵外,針對小於人眼判斷極限的異常瑕疵,運用圖形處理與 AI 演算法技術順利檢出,達到高品質要求

專業光學影像擷取

依據客戶與檢測取像需求,進行通用及客製化設計

配合現場環境與生產步調,配置各式相機、鏡頭與光源,更可依據需求取得 4K、8K 高解析度影像

100% 全檢、零漏檢、低過殺

快速、精準、穩定的自動化檢測

透過 AI+AOI 視覺技術進行印刷文字品質全檢,實現瑕疵零漏檢,以及降低良品過殺損耗機率,大幅提升生產效益


檢測情境

KP21 精準檢測不同材質、印刷材料、方式的印刷文字瑕疵
Defects
斷字瑕疵
印刷不全
外來物/髒污
Substrate
金屬表面
紡織布料
塑料表面
Material
油墨
金/銀箔
凹/凸板
Marking
膠印
熱印/燙金
雷射

系統與設備規格

KF21 半導體裝盒晶圓出貨檢驗方案:

  • 光學取像設備
  • AI + AOI 檢測系統主機
  • AI + AOI 軟體
  • 其他服務

下載產品規格文件、支援、報價與業務合作需求,歡迎與我們聯繫,我們將會盡快與您回覆,謝謝

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